DIPARTIMENTO DI FISICA DELLA MATERIA E INGEGNERIA ELETTRONICA

Responsabili
Prof. A.M. Mezzasalma, Prof. G. Mondio, Prof. F. Neri, Prof. L. Silipigni

La spettroscopia fotoelettronica a raggi X (XPS) è una tecnica d’indagine spettroscopica di superficie che riesce a sondare spessori dell’ordine di qualche nm e che coinvolge elettroni provenienti dai livelli di core.
Tale tecnica permette di avere informazioni sia di tipo quantitativo, ossia sulle percentuali relative agli elementi costituenti il film, sia di tipo qualitativo ossia sulla natura del loro legame chimico. La tecnica è tra l'altro non-invasiva e quindi non distruttiva